O języku map sieci odwrotnej

Adrian Sulich

doi:10.31648/hip.2632

Published: 2018-12-211

No. 24 (2018)

Toward the Language of Reciprocal Space Maps

Adrian Sulich

Humanities and Natural Sciences

Section: articles

https://doi.org/10.31648/hip.2632

Abstract

The article is a linguistic study of reciprocal space maps as figures applied in contemporary scientific language to represent X-ray diffraction by a crystal lattice. The sources of the researched material were crystallographic texts. The analysis shows that investigated signs have a non-linear mixed text structure based mainly on a visual code. They have objective, metalinguistic and metatextual components. Decoding of the investigated semiotic objects is a complicated process involving recognition of presuppositions, system-based information and implications. The crystallographic literature overview indicates that there are a variety of reciprocal space map forms. The most popular of these are discussed with a proposal for their standardization, which would be helpful for the development of linguistic economy in scientific discourse. The literature overview also shows that, apart from reciprocal space maps, there are many other kinds of two-dimensional iconic signs used for X-ray diffraction representation. They are intended to constitute a semiotic macro system; this may be an interesting topic for future studies.

Keywords:

specialist language, reciprocal space map, iconic sign, mixed text, sign optimization, semiotic system

Download files

pdf (Język Polski)

Citation rules

Sulich, A. (2018). Toward the Language of Reciprocal Space Maps. Humanities and Natural Sciences, (24), 519–562. https://doi.org/10.31648/hip.2632

Cited by / Share

Licence

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.

References

Apresjan J. (2000), Semantyka leksykalna. Synonimiczne środki języka, przeł. Z. Kozłowska A. Markowski, oprac. Z. Kozłowska, E. Janus, Zakład Narodowy im. Ossolińskich, Wrocław-Warszawa-Kraków.

Ashcroft N.W., Mermin N.D. (1986), Fizyka ciała stałego, przeł. J.M. Kowalski, Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa.

Austin J.L. (1993), Jak działać słowami, [w:] Idem, Mówienie i poznawanie, przeł. B. Chwedeńczuk, Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa: 545‒708.

Bobrowski C. (1999), Fizyka – krótki kurs, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa.

Bojar B. (1987), O języku znaków drogowych, [w:] Od kodu do kodu: prace ofiarowane profesorowi Olgierdowi Adrianowi Wojtasiewiczowi na 70–lecie jego urodzin, A. Bogusławski, B. Bojar (red.), Wydawnictwa Uniwersytetu Warszawskiego, Warszawa: 237–248.

Bojar B. (2004), Pole informacyjne, dokumentacyjne, tematyczne, semantyczne czy leksykalne?, „Zagadnienia Informacji Naukowej” 1 (83): 3‒11.

Bragg W.H., Bragg, W.L. (1913), The Reflection of X-rays by Crystals, „Proceedings of the Royal Society of London. Series A, Containing Papers of a Mathematical and Physical Character” 88 (605): 428‒438.

Cullity B.D. (1964), Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, przeł. B. Kołakowski, M. Lefeld-Sosnowska, L. Górski, Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa.

Grice P. (1977), Logika i konwersacja, przeł. J. Wajszczuk, „Przegląd Humanistyczny” 6: 85‒99.

Grzegorczykowa R. (2007), Wstęp do językoznawstwa, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa.

Horecka A. (2010), Pojęcie znaku ikonicznego w dziełach wybranych przedstawicieli szkoły lwowsko-warszawskiej: Kazimierza Twardowskiego, Tadeusza Witwickiego, Stanisława Ossowskiego, Mieczysława Wallisa i Leopolda Blausteina, „Studia Semiotyczne” 27: 307‒352.

Jakobson R. (1960), Poetyka w świetle językoznawstwa, „Pamiętnik Literacki” 51 (2): 431‒473.

Korta K., Perry J. (2015), Pragmatics, [in:] The Stanford Encyclopedia of Philosophy (Winter 2015 Edition), E.N. Zalta (ed.), URL = https://plato.stanford.edu/archives/win2015/entries/pragmatics/ [dostęp z dnia 30.09.2018].

Kuna J., Rzuciło A. (2015), Jak zobaczyć informacje, czyli różnorodne funkcje mapy w procesie wymiany informacji, „Folia Bibliologica” 57: 87‒97.

Lyons J. (1975), Wstęp do językoznawstwa, przeł. K. Bogacki, Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa.

Masztalerz M. (2013), Rachunkowość w świetle językoznawstwa, „Zeszyty Teoretyczne Rachunkowości” 1 (127): 177–191.

Mozer A. (2001), Język informacyjny wielkiego miasta na przykładzie centrum Warszawy, „Studia Regionalne i Lokalne” 2–3 (6): 127‒148.

Ossowski S. (1967), Analiza pojęcia znaku, [w:] Idem, Dzieła, t. 4: O nauce, Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa: 33–59.

Ostrowski W. (2013), Relacje semiotyczne w odniesieniu do kartografii, „Polski Przegląd Kartograficzny” 45 (1): 5–14.

Pagin P. (2016), Assertion, [in:] The Stanford Encyclopedia of Philosophy (Winter 2016 Edition), E.N. Zalta (ed.), URL= https://plato.stanford.edu/archives/win2016/entries/assertion/ [dostęp z dnia 30.09.2018].

Pelc J. (1981), Wstęp do semiotyki, Wiedza Powszechna, Warszawa.

Pietsch U., Holy V., Baumbach T. (2004), High Resolution X-Ray Scattering from Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer-Verlag, New York.

Polański K. (red.) (1995), Encyklopedia językoznawstwa ogólnego, Ossolineum, Wrocław.

Posner R. (1990), Równowaga złożoności hierarchii precyzji. Dwie zasady ekonomii w notacji językowej i muzycznej, „Studia Semiotyczne” 16: 109‒117.

Saussure F. de (1961), Kurs językoznawstwa ogólnego, przeł. K. Kasprzyk, Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa.

Wierzbicka A. (1971), Metatekst w tekście, [w:] O spójności tekstu, M.R. Mayenowa (red.), Ossolineum, Wrocław: 105‒121.

Wójcik T. (1969), Prakseosemiotyka: zarys teorii optymalnego znaku, Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa.

Ziomek J. (1984), Metafora a metonimia: refutacje i propozycje, „Pamiętnik Literacki” 75 (1): 181‒209.

Żebrowska E. (2012), Tekst w komunikacji zapośredniczonej komputerowo, „Lingwistyka Stosowana” 5: 145‒154.

Źródła materiału do analizy

Bauer S., Lazarev S., Bauer M., Meisch T., Caliebe M., Holý V., Scholz F., Baumbach T. (2015), Three-dimensional reciprocal space mapping with a two-dimensional detector as a low-latency tool for investigating the influence of growth parameters on defects in semipolar GaN, “Journal of Applied Crystallography” 48: 1000–1010, doi:10.1107/S1600576715009085.

Birch J., Sundgren J.‐E., Fewster P. F. (1995), Measurement of the lattice parameters in the individual layers of single-crystal superlattices, “Journal of Applied Physics” 78: 6562‒6568; doi: 10.1063/1.360476.

Cornelius T.W., Davydok A., Jacques V.L.R., Grifone R., Schülli T., Richard M-I., Beutier G., Verdier M., Metzger T.H., Pietsch U., Thomas O. (2012), In situ three-dimensional reciprocal-space mapping during mechanical deformation, “Journal of Synchrotron Radiation” 19: 688–694, doi:10.1107/S0909049512023758.

Domagala J.Z., Czyzak A., Zytkiewicz Z.R. (2007), Imaging of strain in laterally overgrown GaAs layers by spatially resolved x-ray Diffraction, “Applied Physics Letters” 90: 241904 (3 pp), doi:10.1063/1.2748304.

Domagała J.Z., Morelhão S.L., Sarzynski M., Mazdziarz M., Dłuzewski P., Leszczynski M. (2016), Hybrid reciprocal lattice: application to layer stress determination in GaAlN/GaN(0001) systems with patterned substrates, “Journal of Applied Crystallography” 49: 798–805, doi:10.1107/S1600576716004441.

Fewster P.F. (1991), Combining High-Resolution X-ray Diffractometry and Topography, “Journal of Applied Crystallography” 24: 178‒183, doi:10.1107/S0021889890013085.

Fewster P.F. (1997), Reciprocal space mapping, “Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences” 22 (2): 69‒110, doi:10.1080/10408439708241259.

Fewster P.F. (2003), X-ray Scattering from Semiconductors, Imperial College Press, London.

Gorfman S., Keeble D.S., Bombardi A., Thomas P.A. (2015), Topology and temperature dependence of the diffuse X-ray scattering in Na0.5Bi0.5TiO3 ferroelectric single crystals, “Journal of Applied Crystallography” 48: 1543–1550, doi:10.1107/S160057671501571X.

Hu Z.W., Thomas B.R., Chernov A.A. (2001), Laboratory multiple-crystal X-ray topography and reciprocal-space mapping of protein crystals: influence of impurities on crystal perfection, “Acta Crystallographica Section D, Biological Crystallography” D57: 840‒846, doi:10.1107/S0907444901005832.

Hu W., Suzuki H., Sasaki T., Kozu M., Takahasi M. (2012), High-speed three-dimensional reciprocal-space mapping during molecular beam epitaxy growth of InGaAs, “Journal of Applied Crystallography” 45: 1046–1053, doi:10.1107/S0021889812036175.

Kim Ch., Robinson I.K., Myoung J., Shim K-H., Kim K. (1999), Buffer layer strain transfer in AlN/GaN near critical thickness, “Journal of Applied Physics” 85: 4040‒4044, doi:10.1063/1.370308.

Kopp V.S., Kaganer V.M., Jenichen B., Brandt O. (2014), Analysis of reciprocal space maps of GaN(0001) films grown by molecular beam epitaxy, “Journal of Applied Crystallography” 47: 256–263, doi:10.1107/S1600576713032639.

Lankinen A., Knuuttila L., Kostamo P., Tuomi T.O., Lipsanen H., McNally P.J., O’Reilly L. (2009), Synchrotron topography and X-ray diffraction study of GaInP layers grown on GaAs/Ge, “Journal of Crystal Growth” 311: 4619–4627, doi:10.1016/j.jcrysgro.2009.08.032.

Lomov A.A., Punegov V.I., Nohavica D., Chuev M.A., Vasiliev A.L., Novikov D.V. (2014), High-resolution synchrotron diffraction study of porous buffer InP(001) layers, “Journal of Applied Crystallography” 47: 1614–1625, doi:10.1107/S1600576714016392.

Lonardelli I., Wenk H-R., Lutterotti L., Goodwin M. (2005), Texture analysis from synchrotron diffraction images with the Rietveld method: dinosaur tendon and salmon scale, “Journal of Synchrotron Radiation” 12: 354–360, doi:10.1107/S1600576714016392.

Lyford T.S., Collins S.P., Fewster P.F., Thomas P.A. (2015), X-ray investigation of lateral hetero-structures of inversion domains in LiNbO3, KTiOPO4 and KTiOAsO4, “Acta Crystallographica” A71: 255–267, doi:10.1107/S2053273315001503.

Mariager S.O., Lauridsen S.L., Dohn A., Bovet N., Sørensen C.B., Schlepütz C.M., Willmott P.R., Feidenhans R. (2009), High-resolution three-dimensional reciprocal-space mapping of InAs nanowires, “Journal of Applied Crystallography” 42: 369–375, doi:10.1107/S0021889809009145.

Morelhão S.L., Domagala J.Z. (2007), Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers, “Journal of Applied Crystallography” 40: 546‒551, doi:10.1107/S002188980701521X.

Sasaki T., Suzuki H., Takahasi M., Ohshita Y., Kamiya I., Yamaguchi M. (2011), X-ray reciprocal space mapping of dislocation-mediated strain relaxation during InGaAs/GaAs(001) epitaxial growth, “Journal of Applied Physics” 110: 113502 (7 pp), doi:10.1063/1.3664832.

Schick D., Shayduk R., Bojahr A., Herzog M., von Korff Schmising C., Gaal P., Bargheer M. (2013), Ultrafast reciprocal-space mapping with a convergent beam, “Journal of Applied Crystallography” 46: 1372–1377, doi:10.1107/S0021889813020013.

Serafińczuk J. (2006), Modelowanie i symulacja węzłów sieci odwrotnej struktur o dużym niedopasowaniu sieciowym w stosunku do podłoża, Wrocław (praca doktorska).

Shilo D., Lakin E., Zolotoyabko E. (2001), Measurement of subtle strain modifications in heterostructures by using X-ray mapping in reciprocal space, “Journal of Applied Crystallography” 34: 715‒721, doi:10.1107/S0021889801013759.

Sluis P. van der (1994), Determination of Strain in Epitaxial Semiconductor Structures by High-Resolution X-Ray Diffraction, “Applied Physics A” 58: 129‒134, doi:10.1007/BF00324367.

Teplyakova L.A., Bespalova I.V. (2015), Behavior of Macrofragmentation of Shear-induced Deformation and of Reorientation of Macroregions Formed in Aluminum Single Crystals Under Compression, “Russian Physics Journal” 58 (4): 465‒470, doi:10.1007/s11182‒015‒0522‒9.

Tsoutsouva M.G., Oliveira V.A., Baruchel J., Camel D., Marie B., Lafford T.A. (2015), Characterization of defects in mono-like silicon for photovoltaic applications using X-ray Bragg diffraction imaging, “Journal of Applied Crystallography” 48: 645–654, doi:10.1107/S1600576715004926.

Vergentev T., Bronwald I., Chernyshov D., Gorfman S., Ryding S.H.M., Thompson P., Cernik R.J. (2016), A rapid two-dimensional data collection system for the study of ferroelectric materials under external applied electric fields, “Journal of Applied Crystallography” 49: 1501–1507, doi:10.1107/S1600576716011341.

Wako K., Kimura K., Yamamoto Y., Sawaura T., Shen M., Tachibana M., Kojima K. (2012), Digital topography with an X-ray CCD camera for characterizing perfection in protein crystals, “Journal of Applied Crystallography” 45: 1009–1014, doi:10.1107/S0021889812032049.

Wang Y.P., Letoublon A., Thanh T.N., Bahri M., Largeau L., Patriarche G., Cornet Ch., Bertru N., Le Corre A., Durand O. (2015), Quantitative evaluation of microtwins and antiphase defects in GaP/Si nanolayers for a III–V photonics platform on silicon using a laboratory X-ray diffraction setup, “Journal of Applied Crystallography” 48: 702–710, doi:10.1107/S1600576715009954.

Wierzbicka A., Zytkiewicz Z.R., Kret S., Borysiuk J., Dluzewski P., Sobanska M., Klosek K., Reszka A., Tchutchulashvili G., Cabaj A., Lusakowska E. (2013), Influence of substrate nitridation temperature on epitaxial alignment of GaN nanowires to Si(111) substrate, “Nanotechnology” 24: 035703 (7 pp), doi:10.1088/0957‒4484/24/3/035703.

Yang P., Liu H., Chen Z., Chen L., Wang J. (2014), Unit-cell determination of epitaxial thin films based on reciprocal-space vectors by high-resolution X-ray diffractometry, “Journal of Applied Crystallography” 47: 402–413, doi:10.1107/S1600576713031191.

Zaumseil P. (2017), X-ray investigation of strained epitaxial layer systems by reflections in skew geometry, “Journal of Applied Crystallography” 50: 475–480, doi:10.1107/S160057671700245X. Google Scholar